革新的な3Dレーザープロファイル測定器「SV-LPシリーズ」のご紹介

Phoxterの新たな挑戦!

株式会社Phoxter（フォクスター）が2026年9月1日に販売を開始する3Dレーザープロファイル測定器「SV-LPシリーズ」についてご紹介します。この新製品は、画像処理コントローラー「StellaController 2.0」との連携により、これまで困難だった外観検査を革新します。特に、2D画像では捉えきれなかった「高さの情報」を取得し、色ムラや光沢の影響を受けずに、より信頼性の高い検査を可能にします。

発売の背景

従来の製造現場では、2Dカメラによる外観検査において、色ムラや光の反射による誤った検出が大きな課題となっていました。また、製品にある微細な欠陥を見つけ出すためには、高度な光学系が必要でしたが、それに伴い、正確なデータ化が難しくなっていました。これらの問題を解決するために、3Dセンサーによる高さ画像を利用する手法が模索されていましたが、基準面のばらつきや演算の複雑さから導入が容易ではありませんでした。

SV-LPシリーズの特長

「SV-LPシリーズ」は、これらの課題を克服するために開発されました。この新製品の主な特長は以下の通りです。

1. 超高速・高精細スキャン
最速67,000Hzのスキャン速度と、最高3,200ポイントの超高解像度を誇り、微小な異常も逃さず検出します。

2. シンプルな機器構成
3Dセンサーにデータ処理機能を内蔵しているため、別の機器を介さずに直接「StellaController 2.0」と連携できます。これにより、コストパフォーマンスの高いAI外観検査システムが実現します。

3. 高い耐環境性
IP67防護等級を持ち、湿気や埃の多い環境でも対応可能です。

このように、「SV-LPシリーズ」は高精度な外観検査を低コストで実現する、画期的な製品です。

応用業界と事例

この新製品は、自動車や電子機器、半導体業界において特に需要があります。例えば、EVバッテリーパックやスマートフォンの品質管理において、ミクロン単位の精度が求められ、全数インライン検査が実現可能です。
自動車部品では、モーターステータの検査や、ボタン電池の打痕検査などが行えます。電子機器や半導体領域でも、マザーボードの浮き検査や、極小コネクタの平坦度の検査など、多岐にわたります。